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Cypress Semiconductor STK11C68-5 Manuel d'utilisateur Page 7

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STK11C68
Document Number: 001-50638 Rev. *C Page 7 of 15
Capacitance
In the following table, the capacitance parameters are listed.
[3]
Parameter Description Test Conditions Max Unit
C
IN
Input Capacitance T
A
= 25°C, f = 1 MHz,
V
CC
= 0 to 3.0V
8pF
C
OUT
Output Capacitance 7pF
Thermal Resistance
In the following table, the thermal resistance parameters are listed.
[3]
Parameter Description Test Conditions 28-SOIC 28-CDIP 28-LCC Unit
Θ
JA
Thermal Resistance
(Junction to Ambient)
Test conditions follow standard test methods
and procedures for measuring thermal
impedance, per EIA / JESD51.
TBD TBD TBD °C/W
Θ
JC
Thermal Resistance
(Junction to Case)
TBD TBD TBD °C/W
Figure 4. AC Test Loads
AC Test Conditions
5.0V
Output
30 pF
R1 480Ω
R2
255Ω
Input Pulse Levels....................................................0V to 3V
Input Rise and Fall Times (10% to 90%)...................... <
5 ns
Input and Output Timing Reference Levels.................... 1.5V
Note
3. These parameters are guaranteed by design and are not tested.
Not recommended for new designs.
In production to support ongoing production programs.
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